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インサーキットテスター 3030 マルチコア
量産テスト生産性
SPEA製インサーキットテスター3030は、マルチエンジンアーキテクチャにより、最大4枚の基板に対して完全同時測定が可能により、他のインサーキットシステムに比べて4倍のスループットを実現します。
3030は、様々なテスト手法を用意し、高速なインラインシステムへの対応も可能です。
SPEA独自の計測制御技術
SPEA計測コントローラアーキテクチャは、組込みされたテストCPUよりテストプログラムを実行するために開発されています。
試験速度はシステムCPUによって決定され、PCの性能による影響を受けません。
他社システムではPCで直接計測機器を制御しており、テストの実行速度はPCの性能やアプリケーションの実行状況により決定されます。 また、PCの変更にはアプリケーションの再調整、デバッグが必要になります。
多機能
3030には、要求される故障検出率を実現するために必要な様々なテストモジュールとソフトウエアツールを用意しています。
3030では、高精度なインサーキットテスト、アナログ／デジタルまたはミクスドシグナルテスト、パワーテストおよびファンクションテスト、外観検査、バウンダリスキャンテスト、およびオンボードプログラミングなどを素早く正確に行うことができます。
新製品を開発し検査をしたいが、どう検査したらいいのかがわからない。
生産ラインにおける効率化をはかり、コストダウンを 実現したい。アドバイスがほしい。
新製品の検査もしたいが、同時に品質保証も得たい。
