事業案内

実装基板 検査用プログラム製作

汎用インサーキットテスタ用検査プログラム

インサ－キットテスタ用プログラムの作成を承ります
汎用インサーキットテスタ用検査プログラム
当社では、半導体および実装基板に必要なテストプログラム開発
（ソフトウェア）を作成しています。
各種汎用インサーキットテスタに対応するプログラムも作成いたします。

回路図、ガ－バ－デ－タからでも作成可能。
社内での内作からコストダウンの為、製作委託先をご検討中の
お客様は是非弊社をご利用下さい。
当社設備、各ノウハウより作成いたしますので、
合理化及び人手不足を解消します。
また、弊社では、ハードウェアの開発も社内で行っているため、
ハードウェアとの相関性に優れたプログラム開発が可能です。

対応可能機種
・テラダイン社製　ＴＳシリ－ズ
・GENRAD社製　 ＧＲ２２＊＊シリ－ズ
・ＳＰＥＡ社製　３０３０シリ－ズ
・ＳＰＥＡ社製　４０＊＊シリ－ズ
・テスコン社製　Pointシリーズ

テスト仕様につきましては、御打合わせの上、決定させて頂きます。

弊社所有テスター　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　TESTERS

インサーキットテスター　SPEA3030
弊社所有テスター　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　TESTERS
実装基板のインサーキットテストで考えられる ほとんどの項目について検査可能
アナログ・デジタル部品　全ての実装基板試験が可能
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト
・オープンピンスキャンテスト（SMTリード浮き検出）
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト（JTAG機能テスト）
・その他

インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
フライングプローブテスター　SPEA4030
実装基板のインサーキットテストで考えられる あらゆる項目についてフィクスチャレス（治具不要）で検査可能
アナログ部品・デジタル部品について実装基板試験が可能

・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト（Ｐｏｗｅｒ-ＯＮ テスト）
・オープンピンスキャンテスト（SMTリード浮き検出）
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト（JTAG機能テスト）
・その他
　
テスター用テストプログラム作成を一貫体制でサポート致します。
インサーキットテスター　GenRad社(現TERADYNE)　GR-228X iシリーズ
実装基板のインサーキットテストで考えられる ほとんどの項目について検査可能
アナログ・デジタル部品　全ての実装基板試験が可能
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト
・AFTM（アナログファンクションテストモジュール）
　　　周波数、周期、タイムインターバル測定など
・Opens Xpressテスト（SMTリード浮き検出）
・バウンダリスキャンテスト（JTAG機能テスト）
・その他

インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
アナログインサーキットテスター（テスコン互換テスター）
検査可能部品
　・オープン・ショートテスト
　・抵抗
　・コンデンサ・コイル
　・ダイオード
　・トランジスタ
　・フォトカプラ・デジタルトランジスタ
　・コンデンサー極性判別
　・その他

インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
対象機種
HIOKI/OKANO/TAKAYA/TESCON全般

ファンクション検査用プログラム製作

ファンクション検査用プログラム製作
ファンクション検査用の専用治具およびプログラムを製作します。
詳しくはBUSINESS３

各種検査に適合した治具を製作するとともに各種用途に合わせて
ファンクション検査構成を企画提案いたします。
検査内容に対し最適な検査治具により、工数低減、安全作業、
誤操作防止により合理化します。
また、お客様にニーズに合わせて各種の実機テスト、
ファンクションテストの仕様に対応いたします。

現在社内で手作業で行っている検査業務に対し合理化、工程改善、
コストダウンをご検討のお客様に対し各試験の自動化をご提案
いたします。

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