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汎用インサーキットテスタ用検査プログラム
インサ-キットテスタ用プログラムの作成を承ります
![汎用インサーキットテスタ用検査プログラム](./up_img/1498814438-241355_1.jpg?r=1836646523)
当社では、半導体および実装基板に必要なテストプログラム開発
(ソフトウェア)を作成しています。
各種汎用インサーキットテスタに対応するプログラムも作成いたします。
回路図、ガ-バ-デ-タからでも作成可能。
社内での内作からコストダウンの為、製作委託先をご検討中の
お客様は是非弊社をご利用下さい。
当社設備、各ノウハウより作成いたしますので、
合理化及び人手不足を解消します。
また、弊社では、ハードウェアの開発も社内で行っているため、
ハードウェアとの相関性に優れたプログラム開発が可能です。
対応可能機種
・テラダイン社製 TSシリ-ズ
・GENRAD社製 GR22**シリ-ズ
・SPEA社製 3030シリ-ズ
・SPEA社製 40**シリ-ズ
・テスコン社製 Pointシリーズ
テスト仕様につきましては、御打合わせの上、決定させて頂きます。
(ソフトウェア)を作成しています。
各種汎用インサーキットテスタに対応するプログラムも作成いたします。
回路図、ガ-バ-デ-タからでも作成可能。
社内での内作からコストダウンの為、製作委託先をご検討中の
お客様は是非弊社をご利用下さい。
当社設備、各ノウハウより作成いたしますので、
合理化及び人手不足を解消します。
また、弊社では、ハードウェアの開発も社内で行っているため、
ハードウェアとの相関性に優れたプログラム開発が可能です。
対応可能機種
・テラダイン社製 TSシリ-ズ
・GENRAD社製 GR22**シリ-ズ
・SPEA社製 3030シリ-ズ
・SPEA社製 40**シリ-ズ
・テスコン社製 Pointシリーズ
テスト仕様につきましては、御打合わせの上、決定させて頂きます。
弊社所有テスター TESTERS
インサーキットテスター SPEA3030
![弊社所有テスター TESTERS](./up_img/1384856584-254263_1.jpg?r=799050697)
実装基板のインサーキットテストで考えられる ほとんどの項目について検査可能
アナログ・デジタル部品 全ての実装基板試験が可能
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト
・オープンピンスキャンテスト(SMTリード浮き検出)
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
・各デジタル部品テスト
・オープンピンスキャンテスト(SMTリード浮き検出)
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
フライングプローブテスター SPEA4030
![](./up_img/1450660610-494452_1.jpg?r=1175885751)
実装基板のインサーキットテストで考えられる あらゆる項目についてフィクスチャレス(治具不要)で検査可能
アナログ部品・デジタル部品について実装基板試験が可能
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト(Power-ON テスト)
・オープンピンスキャンテスト(SMTリード浮き検出)
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
テスター用テストプログラム作成を一貫体制でサポート致します。
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト(Power-ON テスト)
・オープンピンスキャンテスト(SMTリード浮き検出)
・周波数測定
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
テスター用テストプログラム作成を一貫体制でサポート致します。
インサーキットテスター GenRad社(現TERADYNE) GR-228X iシリーズ
![](./up_img/1384857026-963305_1.jpg?r=1807944057)
実装基板のインサーキットテストで考えられる ほとんどの項目について検査可能
アナログ・デジタル部品 全ての実装基板試験が可能
・各アナログ部品テスト
・各デジタル部品テスト
・AFTM(アナログファンクションテストモジュール)
周波数、周期、タイムインターバル測定など
・Opens Xpressテスト(SMTリード浮き検出)
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
・各デジタル部品テスト
・AFTM(アナログファンクションテストモジュール)
周波数、周期、タイムインターバル測定など
・Opens Xpressテスト(SMTリード浮き検出)
・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
アナログインサーキットテスター(テスコン互換テスター)
![](./up_img/1384927273-286158_1.jpg?r=2094466073)
検査可能部品
・オープン・ショートテスト
・抵抗
・コンデンサ・コイル
・ダイオード
・トランジスタ
・フォトカプラ・デジタルトランジスタ
・コンデンサー極性判別
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
・オープン・ショートテスト
・抵抗
・コンデンサ・コイル
・ダイオード
・トランジスタ
・フォトカプラ・デジタルトランジスタ
・コンデンサー極性判別
・その他
インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。
対象機種
HIOKI/OKANO/TAKAYA/TESCON全般
HIOKI/OKANO/TAKAYA/TESCON全般
ファンクション検査用プログラム製作
![ファンクション検査用プログラム製作](./up_img/1499084853-160518_1.jpg?r=298922398)
ファンクション検査用の専用治具およびプログラムを製作します。
詳しくはBUSINESS3
各種検査に適合した治具を製作するとともに各種用途に合わせて
ファンクション検査構成を企画提案いたします。
検査内容に対し最適な検査治具により、工数低減、安全作業、
誤操作防止により合理化します。
また、お客様にニーズに合わせて各種の実機テスト、
ファンクションテストの仕様に対応いたします。
現在社内で手作業で行っている検査業務に対し合理化、工程改善、
コストダウンをご検討のお客様に対し各試験の自動化をご提案
いたします。
詳しくはBUSINESS3
各種検査に適合した治具を製作するとともに各種用途に合わせて
ファンクション検査構成を企画提案いたします。
検査内容に対し最適な検査治具により、工数低減、安全作業、
誤操作防止により合理化します。
また、お客様にニーズに合わせて各種の実機テスト、
ファンクションテストの仕様に対応いたします。
現在社内で手作業で行っている検査業務に対し合理化、工程改善、
コストダウンをご検討のお客様に対し各試験の自動化をご提案
いたします。